於保 英作

工学部 電気電子工学科教授

経歴

  • 2003年04月 - 現在
    工学院大学工学部電気工学科教授
  • 1996年04月 - 2003年03月
    工学院大学工学部電気工学科助教授
  • 1990年04月 - 1996年03月
    工学院大学工学部電気工学科講師
  • 1991年04月 - 1992年03月
    コネチカット州立大学客員研究員
  • 1987年04月 - 1990年03月
    工学院大学工学部電気工学科助手

学歴

  • 1984年04月 - 1987年03月
    工学院大学, 工学研究科, 電気工学専攻
  • 1982年04月 - 1984年03月
    工学院大学, 工学研究科, 電気工学専攻
  • 1978年04月 - 1982年03月
    工学院大学, 工学部, 電子工学科

学位

  • 1982年03月
    工学士, 工学院大学
  • 1984年03月
    工学修士, 工学院大学
  • 1987年03月
    工学博士, 工学院大学

所属学協会

  • 1982年04月 - 現在
    日本顕微鏡学会

ID各種

  • ID各種

    研究者番号:40194633
    researchmap会員ID:1000071043
    J-Global ID:200901022556581764

研究分野

  • ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学), 電子デバイス、電子機器
  • ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学), 計測工学

研究キーワード

  • 画質評価
  • 画像処理
  • マルチモーダル顕微鏡
  • 走査電子顕微鏡

書籍等出版物

  • 生命の形と機能
    担当部分著者:於保英作, 共著
    朝倉書店, 2013年10月25日
    9784320034730
  • 新・走査電子顕微鏡
    編集委員長:牛木辰男、編集委員:於保英作他、著者:於保英作他, 共著
    共立出版、日本顕微鏡学会関東支部偏, 2011年06月30日
    9784320034730
  • Digital image-processing technology useful for scanning electron microscopy and its practical applications. ADVANCES IN IMAGING AND ELECTRON PHYSICS, Vol.122 (Ed. by Hawkes PW)
    Eisaku Oho, 分担執筆
    Elsevier Science, 2002年
  • 走査電子顕微鏡
    編集委員長:大隈正子、著者:永谷隆、於保英作他, 共著
    共立出版、日本電子顕微鏡学会関東支部偏, 2000年05月
  • Digital image processing technology for SEM. ADVANCES IN IMAGING AND ELECTRON PHYSICS, Vol.105 (Ed. by Hawkes PW)
    Eisaku Oho, 分担執筆
    Academic Press, 1999年
  • 電子顕微鏡の上手な使い方講座III日本電子顕微鏡学会編
    著者:編集委員長安田寛基、相原 薫、於保英作、他, 共著
    医学出版センター, 1992年07月
  • 先端材料評価のための電子顕微鏡技法日本電子顕微鏡学会関東支部編
    著者:編集委員長 石田洋一、出井数彦、高柳邦夫、馬場則男、於保英作、他, 共著
    朝倉書店, 1991年11月
  • 表面分析辞典日本表面科学会編
    著者・編集委員 長岡田正和、井野正三、市ノ川竹男、於保英作、他 160名による執筆, 共著
    共立出版, 1986年12月

論文

MISC

講演・口頭発表等

  • 様々なSEM操作条件下で表面微細構造の変形を正確に測定するための新しい相関係数法
    大形直; 山﨑貞郎; 鈴木一彦; 於保英作
    日本顕微鏡学会第80回学術講演会, 2024年06月05日
  • 信頼度の高いSEM像を得るための特殊な画像積算技術と組み合わせた高速スキャン法
    古澤大地; 熊田朋貴; 大形直; 鈴木一彦; 山﨑貞郎; 於保英作
    日本顕微鏡学会第80回学術講演会, 2024年06月05日
  • ノイズの多い低真空SEM条件下で試料損傷の程度を調べるための高信頼性手法
    大形直; 山﨑貞郎; 鈴木一彦; 於保英作
    日本顕微鏡学会第80回学術講演会, 2024年06月04日
  • SEM像から得られたSN比マップ画像による汎用SEMのためのノイズ除去技術の評価
    鈴木一彦; 熊田朋貴; 山﨑貞郎; 於保英作
    日本顕微鏡学会第80回学術講演会, 2024年06月04日
  • SEM試料の性質や装置の操作条件を考慮した合焦動作用画像信号の適正取得
    山﨑貞郎; 熊田朋貴; 鈴木一彦; 於保英作
    日本顕微鏡学会第80回学術講演会, 2024年06月04日
  • 画像処理技術と組み合わせたSEMのための高速スキャンシステムの効果的な活用方法
    鈴木一彦,木村仁美、山﨑貞郎; 於保英作
    日本顕微鏡学会第79回学術講演会, 2023年06月26日
  • SEM試料の性質に起因するフォーカス動作用信号の変動抑制
    山﨑貞郎,熊田朋貴、鈴木一彦,於保英作
    日本顕微鏡学会第79回学術講演会, 2023年06月26日
  • SEM像から得られた分割画像へのノイズ成分の影響を受けない相関係数法の適用
    大形直、山﨑貞郎,鈴木一彦,於保英作
    日本顕微鏡学会第79回学術講演会, 2023年06月26日
  • SEM像から得られたSN比マップ画像の特性とその潜在的利用価値
    熊田朋貴; 鈴木一彦,山﨑貞郎; 於保英作
    日本顕微鏡学会第79回学術講演会, 2023年06月26日
  • SEMノイズ成分に影響されず試料損傷の程度を調べるための相関係数を得る高信頼性手法
    山﨑貞郎,鈴木一彦,於保英作
    日本顕微鏡学会第78回学術講演会, 2022年05月12日
  • 画像処理技術と組み合わせたSEMのための高速スキャンシステムの実用化に向けて
    木村仁美; 鈴木一彦,山﨑貞郎; 於保英作
    日本顕微鏡学会第78回学術講演会, 2022年05月12日
  • 畳み込みニューラルネットワークを用いた汎用SEMのためのノイズ除去技術の評価
    鈴木一彦,熊田朋貴; 木村仁美; 山﨑貞郎; 於保英作
    日本顕微鏡学会第78回学術講演会, 2022年05月12日
  • SEM像から得られた細分割画像によって生成されたSN比マップ画像とその潜在的利用価値
    熊田朋貴; 鈴木一彦,山﨑貞郎; 於保英作
    日本顕微鏡学会第78回学術講演会, 2022年05月12日
  • 可変圧力SEMの有効活用におけるSEMノイズに,影響されない相関係数を用いた試料損傷測定
    山﨑貞郎,鈴木一彦,大川柾弥; 於保英作
    日本顕微鏡学会第77回学術講演会, 2021年06月16日
  • 汎用SEMのための畳み込みニューラルネットワークを用いたノイズ除去技術とその問題点
    鈴木一彦,山﨑貞郎; 於保英作
    日本顕微鏡学会第77回学術講演会, 2021年06月16日
  • SEM像から得られた適正分割画像のSN比測定の必要性
    於保英作; 鈴木一彦,山﨑貞郎
    日本顕微鏡学会第77回学術講演会, 2021年06月16日
  • デジタル画像処理技術と組み合わせたSEMのための高性能高速スキャン法
    木村仁美; 鈴木一彦,山﨑貞郎; 於保英作
    日本顕微鏡学会第77回学術講演会, 2021年06月16日
  • SEMの標準取得モードとしてのデジタル画像処理技術と組み合わせた高速走査法の提案
    於保英作、鈴木一彦、山﨑貞郎
    日本顕微鏡学会第76回学術講演会, 2020年05月25日, 日本顕微鏡学会
  • 畳み込みニューラルネットワークを用いたSEM像のノイズ除去とその画質評価
    鈴木一彦,山﨑貞郎,於保英作
    日本顕微鏡学会第76回学術講演会, 2020年05月25日
  • SEMの焦点合わせと非点補正に用いる超低品質信号改善技術の実用化
    山﨑貞郎,鈴木一彦,於保英作
    日本顕微鏡学会第76回学術講演会, 2020年05月25日
  • Fast Scanning Method Applicable as a Standard Acquisition Mode for SEM
    Eisaku Oho; Kazuhiko Suzuki and Sadao Yamazaki
    日本顕微鏡学会第62回シンポジウム, 2019年11月30日, 日本顕微鏡学会
  • Noise removal for SEM images using a convolutional neural network
    Kazuhiko Suzuki; Eisaku Oho and Sadao Yamazaki
    日本顕微鏡学会第62回シンポジウム, 2019年11月30日, 日本顕微鏡学会
  • Technology for fundamentally improving an extremely low-quality video signal used for fine focusing and astigmatism correction in scanning electron microscopy
    Sadao Yamazaki; Kazuhiko Suzuki and Eisaku Oho
    日本顕微鏡学会第62回シンポジウム, 2019年11月30日, 日本顕微鏡学会
  • 多様なSEM信号の品質を適切に評価するためのSN比とeSN比
    於保英作、鈴木一彦、山﨑貞郎
    日本顕微鏡学会第75回学術講演会, 2019年06月19日, 日本顕微鏡学会
  • 畳み込みニューラルネットワークを用いたSEM像のノイズ除去とその利点
    鈴木一彦、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会第75回学術講演会, 2019年06月19日, 日本顕微鏡学会
  • 走査電子顕微鏡の合焦支援システムにおける活用を視野に入れた信号品質改善技術
    山﨑貞郎、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会第75回学術講演会, 2019年06月19日, 日本顕微鏡学会
  • 連続取得高速走査SEM像のための位置合わせと適切な積算回数の検出を伴う画像積算技術
    鈴木一彦、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会第75回学術講演会, 2019年06月18日, 日本顕微鏡学会
  • 可変圧力SEMの有効活用を目的とした入射電流と画質の測定
    山﨑貞郎、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会第75回学術講演会, 2019年06月17日, 日本顕微鏡学会
  • 十分なSN比を維持するSEM像取得法と能動形ハイライトフィルタへの応用
    鈴木一彦、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会第43回関東支部講演会, 2019年03月16日, 日本顕微鏡学会
  • 可変圧力SEMの活用に必要な入射電流・SN比・試料質量変化の測定
    山﨑貞郎、城所智希、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会第43回関東支部講演会, 2019年03月16日, 日本顕微鏡学会
  • 畳み込みニューラルネットワークを利用したSEM像ノイズ除去法の性能・特性評価
    於保英作、鈴木一彦、山﨑貞郎
    日本顕微鏡学会第43回関東支部講演会, 2019年03月16日, 日本顕微鏡学会
  • 高速走査のメリットを十分に発揮させるための適正画像処理技術
    鈴木一彦、五十嵐駿介、中西太陽、河﨑亘輝、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会第43回関東支部講演会, 2019年03月16日, 日本顕微鏡学会
  • 高速走査SEMと低速走査SEM間の画像品質の客観的比較
    鈴木一彦、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会第74回学術講演会, 2018年05月30日, 日本顕微鏡学会
  • 低画質動作条件下で使用する低真空SEMの利用範囲の拡大
    山﨑貞郎、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会第74回学術講演会, 2018年05月30日, 日本顕微鏡学会
  • SN比、eSN比を正しく測定するためのSEM装置の重要な条件
    於保英作、鈴木一彦、山﨑貞郎
    日本顕微鏡学会第74回学術講演会, 2018年05月29日, 日本顕微鏡学会
  • 能動形画像処理の考え方に基づいた十分なSN比を維持するSEM像取得法
    鈴木一彦、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会第74回学術講演会, 2018年05月29日, 日本顕微鏡学会
  • SEMの高精度焦点合わせと非点収差補正に用いる超低SN比信号の品質改善技術
    山﨑貞郎、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会第74回学術講演会, 2018年05月29日, 日本顕微鏡学会
  • SEM像の画質を評価するための有効信号対雑音比(eSN比)
    於保英作、山﨑貞郎、鈴木一彦
    日本顕微鏡学会第42回関東支部講演会, 2018年03月10日, 日本顕微鏡学会
  • 低真空SEMの画質客観評価と利用範囲の拡大
    於保英作、高橋慧祐、高堰理子、山﨑貞郎、鈴木一彦
    日本顕微鏡学会第42回関東支部講演会, 2018年03月10日, 日本顕微鏡学会
  • 試料の性質を考慮した常に十分なSN比を維持するためのSEM像取得法
    鈴木一彦、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会第42回関東支部講演会, 2018年03月10日, 日本顕微鏡学会
  • 聴覚信号を用いたSEMのための合焦支援システム
    山﨑貞郎、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会第42回関東支部講演会, 2018年03月10日, 日本顕微鏡学会
  • 聴覚信号を用いたSEMの高精度焦点合わせと非点収差補正のための支援システム
    山﨑貞郎、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会第73回学術講演会, 2017年06月01日, 日本顕微鏡学会
  • 走査電子顕微鏡で常に十分な信号対雑音比を維持する像取得法
    鈴木一彦、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会第73回学術講演会, 2017年06月01日, 日本顕微鏡学会
  • 走査電子顕微鏡での利用に適した有効信号対雑音比
    於保英作、山﨑貞郎、鈴木一彦
    日本顕微鏡学会第73回学術講演会, 2017年06月01日, 日本顕微鏡学会
  • SEMの実効的な信号に基づいたSN比とその測定方法
    於保英作、鈴木貴大、山﨑貞郎、鈴木一彦
    日本顕微鏡学会第72回学術講演会, 2016年06月16日, 日本顕微鏡学会
  • SEMにおける信号依存ノイズの低減とその評価
    鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会第72回学術講演会, 2016年06月16日, 日本顕微鏡学会
  • 人間の聴覚を利用したSEM用焦点合わせ支援システムの改良
    山﨑貞郎、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会第72回学術講演会, 2016年06月16日, 日本顕微鏡学会
  • SEM信号の性質を考慮したComplex Hysteresis Smoothingの改良
    鈴木一彦、木村沙織、於保英作
    日本顕微鏡学会第71回学術講演会, 2015年05月15日, 日本顕微鏡学会
  • 人間の聴覚を利用したSEM用焦点合わせ支援システムの特長
    於保英作、木村沙織、鈴木一彦
    日本顕微鏡学会第71回学術講演会, 2015年05月15日, 日本顕微鏡学会
  • SEM像共分散を用いるSN比測定法の改良と性能評価
    於保英作、鈴木一彦、山﨑貞郎
    日本顕微鏡学会第71回学術講演会, 2015年05月15日, 日本顕微鏡学会
  • 非線形加減速を用いた高速機械式走査によるSEMの広領域観察
    山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会第71回学術講演会, 2015年05月14日, 日本顕微鏡学会
  • 人間の聴覚を活用するSEM用焦点合わせ支援システム
    木村沙織、鈴木一彦、於保英作
    第39回日本顕微鏡学会関東支部講演会, 2015年02月28日, 日本顕微鏡学会
  • SEM像共分散を用いるSN比測定法の性能評価
    於保英作、鈴木一彦、山﨑貞郎
    第39回日本顕微鏡学会関東支部講演会, 2015年02月28日, 日本顕微鏡学会
  • 高速機械式走査を併用したSEMの非線形加減速における像取得
    松井拓也、山﨑貞郎、於保英作
    第39回日本顕微鏡学会関東支部講演会, 2015年02月28日, 日本顕微鏡学会
  • 機械式走査用SEM試料ステージの加速度計測による振動評価
    山﨑貞郎、松井拓也、山﨑貞郎、於保英作
    第39回日本顕微鏡学会関東支部講演会, 2015年02月28日, 日本顕微鏡学会
  • SEM用ノイズ除去フィルタCHSの性能向上とその応用
    鈴木一彦、木村沙織、於保英作
    第39回日本顕微鏡学会関東支部講演会, 2015年02月28日, 日本顕微鏡学会
  • Ultrahigh quality SEM images of biological samples using a long acquisition time and complex hysteresis smoothing
    Eisaku Oho; Kazuhiko Suzuki
    XXIII INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MORPHOLOGICAL SCIENCES (Niigata), 2013年09月11日
  • Reduction of charging effects in biological samples using a special raster scanning
    Eisaku Oho; Kazuhiko Suzuki
    XXIII INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MORPHOLOGICAL SCIENCES (Niigata), 2013年09月11日
  • Feature evaluation of complex hysteresis smoothing
    鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2013年05月21日
  • Special raster scanning for reduction of,charging effects in SEM
    鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2013年05月21日
  • PSDを用いた試料ステージの位置検出
    松井拓也、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2013年05月20日
  • 高速機械式走査を装備したSEM による広視野観察
    山﨑貞郎、松井拓也、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2013年05月20日
  • Special raster scanning for reduction of charging effects in SEM
    日本顕微鏡学会, 2013年
  • Ultrahigh quality SEM images of biological samples using a long acquisition time and complex hysteresis smoothing
    XXIII INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MORPHOLOGICAL SCIENCES (Niigata), 2013年
  • Reduction of charging effects in biological samples using a special raster scanning
    XXIII INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MORPHOLOGICAL SCIENCES (Niigata), 2013年
  • 人間の視覚特性と画像処理技術を有効活用した走査電子顕微鏡
    於保英作、鈴木一彦
    日本顕微鏡学会関東支部, 2012年03月10日
  • 走査電子顕微鏡の画質評価と画質改善
    鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会関東支部, 2012年03月10日
  • 視覚と聴覚を利用したSEM用手動焦点合わせ支援システム
    豊泉祐樹、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2011年05月16日
  • 低真空SEMにおける高速走査BSE像の画像修復
    城定勇也、鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2011年05月16日
  • 流体によるSEMステージ高速駆動の検討
    根岸洋平、山﨑貞郎、星野吉延、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2011年05月16日
  • マイクロステップ駆動パルスモータによるSEMステージ位置決め精度の検討
    根岸洋平、山﨑貞郎、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2011年05月16日
  • SEMにおけるCHSの効果的な利用のための処理パラメータ決定法
    鈴木一彦、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2011年05月16日
  • 3D-scanning electron microscopy for biological samples with the functions of image observation, reconstruction and quantitative measurement
    Kazuhiko Suzuki
    XXI INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MORPHOLOGICAL SCIENCES (Italy), 2010年09月20日
  • Advanced scanning electron microscopy for ultrahigh quality observation of biological samples
    Kazuhiko Suzuki
    XXI INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MORPHOLOGICAL SCIENCES (Italy), 2010年09月20日
  • TV-走査半導体BSE検出器信号のための周波数改善技術の実用化
    鈴木一彦、星野吉延、川俣茂
    日本顕微鏡学会, 2010年05月24日
  • コントラスト正規化法を用いたComplex Hysteresis Smoothing filter の改善
    鈴木一彦
    日本顕微鏡学会, 2010年05月24日
  • 3D-scanning electron microscopy for biological samples with the functions of image observation, reconstruction and quantitative measurement
    XXI INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MORPHOLOGICAL SCIENCES (Italy), 2010年
  • Advanced scanning electron microscopy for ultrahigh quality observation of biological samples
    XXI INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MORPHOLOGICAL SCIENCES (Italy), 2010年
  • Reduction in acquisition time of SEM image using complex hysteresis smoothing
    Kazuhiko Suzuki; Eisaku Oho
    第8回アジア-太平洋電子顕微鏡学会議 (8APEM), 2004年06月
  • Image quality improvement and its quantitative measurement using helium gas in variable pressure scanning electron microscopy equipped with various detectors
    Eisaku Oho; Yuji Bundoh
    第8回アジア-太平洋電子顕微鏡学会議 (8APEM), 2004年06月
  • SEMを基本としたマルチモー,ダル顕微鏡の可能性について
    うす井克敏、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2003年06月
  • SEMを基本としたマルチモー ダル顕微鏡の可能性について
    日本顕微鏡学会, 2003年
  • PC制御SEMを活用した, 走査電子顕微鏡性能の向上
    菅原孝義、於保英作
    日本顕微鏡学会, 2002年05月
  • PC制御SEMを活用した 走査電子顕微鏡性能の向上
    日本顕微鏡学会, 2002年
  • New digital image processing technology for FSEM microscopy.
    著者:KR Peters、於保英作
    51st MSA, 1993年06月
  • New digital image processing technology for FSEM microscopy.
    51st MSA, 1993年
  • Digital imaging with field emission scanning electron microscopes (FSEM).
    著者:KR Peters、於保英作
    50th MSA(Microscopical Society of America,, 1992年06月
  • Digital imaging with field emission scanning electron microscopes (FSEM).
    50th MSA(Microscopical Society of America,, 1992年
  • SEM試料の性質や装置の操作条件を考慮した合焦動作用画像信号の適正取得

受賞

他機関の委員歴

  • 2012年04月 - 現在
    代議員, 日本顕微鏡学会
  • 1997年04月 - 現在
    関東支部評議員, 日本顕微鏡学会
  • 1996年04月 - 現在
    SEM研究部会幹事, 日本顕微鏡学会
  • 1996年04月 - 現在
    SCAN TECH’96および97実行委員, 日本顕微鏡学会